-
Moiré Substrate Warpage TestingMikil-nákvæmni Moiré-undirstaða undirlagsskekkjumælingarkerfi sem greinir ljósbrot á yfirborði sýna. Skilar míkron-stigs aflögunarmælingu með stöðugu stjórnkerfi fyrir hitauppstreymi. Tilgangur-byggtchoghIjtaHghach
-
Ítarlegri FIB & TEM fyrir greiningu á oblátumHáþróuð FIB-sýnisundirbúningur á -stigi og TEM-greiningarþjónusta veitir nákvæma sýniundirbúning og burðargreiningarlausnir fyrir háþróaða vinnsluflögur með því að framkvæma FIB-sýnisundirbúning áchoghIjtaHghach
-
DB-FIB (Dual-Beam Focused Ion Beam)GRGTEST Metrology veitir faglega tvíþætta-geislamiðaða jóngeisla (DB-FIB) greiningarþjónustu. Vinsæl prófunarþjónusta felur í sér TEM sýnishorn fyrir háþróaða ferla (14 nm og neðar), FA heiturchoghIjtaHghach
-
TEM myndgreining og greiningSendingar rafeindasmásjár (TEM) er orðið ómissandi greiningartæki á sviði efna og hálfleiðara. Það er rafeindasjóntæki sem notar há-orku rafeindageisla sem lýsingargjafa og einbeitir sér að rafeindumchoghIjtaHghach
-
Kljúfabúnaður fyrir oblátur og SEM myndgreiningKljúfabúnaður fyrir oblátur og SEM myndgreiningarþjónusta eru lykiltæknileg stuðningur við efnisvísindi, rafeindaiðnað og lífeðlisfræðilegar rannsóknir, og henta sérstaklega vel fyrir innrichoghIjtaHghach
-
AFM (Atomic Force Microscopy) greiningBruker Dimension ICON6 atómkraftssmásjáin styður 12 stillingar, þar á meðal snertingu, snertingu og hámarkskraftssmellingu, til að mæta prófunarþörfum mismunandi sýna og veita fjölbreyttarchoghIjtaHghach
-
Orkudreifingarrófsgreining (EDS) GreiningEDS stendur fyrir Energy Dispersive Spectrometer, sem er röntgenorkudreifandi litrófsgreiningaraðferð. Meginregla þess byggist á því að mismunandi frumefni gefa frá sér einkennandi röntgengeisla meðchoghIjtaHghach
-
PFIB (Plasma Focused Ion Beam)Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etchingchoghIjtaHghach
-
FT (Lokapróf) fjöldaframleiðsluprófunGRGTEST er með eins- FT hugbúnaðar- og vélbúnaðarlausnir og getur veitt viðskiptavinum alhliða þjónustu, þar á meðal prófunartæknimat, þróun próflausna, prófunarvélbúnaðarþróun, forritaþróun ogchoghIjtaHghach
-
Aerospace vír og kapal prófGRGTEST hefur komið á fót alhliða getu fyrir efnisgreiningu, eðliseiginleikagreiningu, virkniprófun, áreiðanleikasannprófun, bilunargreiningu og líftímamat á vírum, snúrum, tengjum og samsetningum íchoghIjtaHghach
-
Ljósleiðarar og tengiÍ nútíma fjarskipta- og gagnaverum eru ljósleiðarasamskipti orðin ómissandi vegna kosta þeirra háhraða, mikillar afkastagetu og langra-flutninga. Notkun ljósleiðara og tengisamsetninga er í auknumchoghIjtaHghach
-
Flís-ESD prófun á stigiESD (electrostatic discharge) prófun á flísum er áreiðanleikapróf fyrir samþætta hringrás (ICs) sem notuð eru til að meta getu flísar til að standast truflun á rafstöðuafhleðslu við framleiðslu,choghIjtaHghach
Við erum faglegur þjónustuaðili fyrir bilanagreiningu í Kína og veitum bestu rannsóknarstofur og lausnir. Vinsamlegast ekki hika við að hafa samband við okkur til að fá tilboð.
Hringdu í okkur
